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以下是 Shibuya-opt MSP-100 系列反射率測量儀 的同類/替代產品全清單，涵蓋不同行業需求（光學鍍膜、半導體、顯示等），并附關鍵參數對比：
| 型號 | 品牌 | 波長范圍 | 光斑尺寸 | 精度 | 特點 | 適用行業 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| MSP-100UV | Shibuya-opt | 380-1050nm | φ50μm | ±0.02% | 紫外敏感，非接觸測量，適合半導體光刻膠檢測 | 半導體、光學鍍膜 |
| USPM-RUⅢ | 奧林巴斯 | 380-780nm | φ30μm | ±0.01% | 膜厚+反射率聯測，干涉法高精度 | 光學鍍膜、單層膜分析 |
| Filmetrics F20 | KLA（美國） | 190-1700nm | 10μm | ±0.1% | 薄膜厚度+反射率同步分析，毫秒級測量 | 半導體、MEMS |
| SRT100 | 北京某貿易商 | 250-1100nm | 500μm-5mm | ±0.5% | 可測5層薄膜折射率/反射率，支持實時在線測量 | 液晶顯示、光學涂層 |
| SR100 | Angstrom Sun | 250-1100nm | 500μm-5mm | ±0.5% | 快速測量（2ms），支持多通道升級 | 半導體、納米材料 |
| 型號 | 品牌 | 波長范圍 | 光斑尺寸 | 特點 | 適用行業 |
|---|---|---|---|---|---|
| MSP-100IR | Shibuya-opt | 近紅外（定制） | φ50μm | InGaAs傳感器，高信噪比 | 紅外光學、熱控涂層 |
| 410Vis-IR | 安洲科技 | 335nm-21μm | 模塊化探頭 | 可見+紅外雙測量頭，支持太陽能吸收率計算 | 航空、太陽能、建筑 |
| SSR-ER | 帝恩斯（美國） | 太陽光譜模擬 | 25.4mm孔徑 | 16種大氣條件測試，NIST溯源 | 航天、熱控涂層 |
| RT100 | 未知品牌 | 200-2500nm | 1mm | 透射/反射聯測，積分球兼容 | 顯示面板、濾光片 |
| 型號 | 品牌 | 波長范圍 | 精度 | 特點 | 適用場景 |
|---|---|---|---|---|---|
| 15R-RGB | 美國某品牌 | 多波段（RGB+IR） | ±0.002 | 便攜式，5波段測量，太陽能反射鏡檢測 | 太陽能、戶外檢測 |
| C84-Ⅲ | PUSHEN | 可見光（固定角度） | ±1% | 低成本，適用于涂料遮蓋力測試 | 建筑涂料、質檢 |
| NR4510 | 三恩時 | 可見光 | ±0.5% | 手持式，即開即測，適合產線快速檢測 | 工業現場、快速質檢 |
| 型號 | 品牌 | 波長范圍 | 精度 | 特點 | 適用領域 |
|---|---|---|---|---|---|
| Horiba SmartSpec 3000 | Horiba | 深紫外-THz | 0.001% | 超高研究級，低溫恒溫樣品倉 | 量子材料、二維材料 |
| kSA SpectR | kSA（美國） | 220-2500nm | ±1% | 實時鍍膜監控（MBE/MOCVD），適合半導體外延生長 | 半導體外延片研發 |
| Sentech SE 850 | Sentech | 橢偏+反射聯測 | 納米級 | 可分析光學常數（n,k），適合超薄膜研究 | 高光學鍍膜 |
光學鍍膜：MSP-100UV（高精度）或 USPM-RUⅢ（膜厚聯測）。
半導體：Filmetrics F20（微區）或 kSA SpectR（實時監控）。
顯示行業：RT100（寬光譜）或 410Vis-IR（太陽能優化）。
工業現場：NR4510（便攜）或 15R-RGB（多波段）。
